테스트 분리 소켓에 작동 플러그 및 변압기 단락-회로가 있는 테스트 분리 시스템

작동 플러그가 있는 테스트 분리 시스템

테스트 프로세스 최적화

FAME 1을 사용하여 테스트 프로세스를 개별 블록에 결합할 수 있습니다.

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FAME 1은 변류기, 전압 변환기, 트리핑 및 신호 접점의 기능 테스트를 위한 복잡한 스위칭 작업을 컴팩트한 공간 절약형 개별 블록에 결합합니다. 이 시스템은 N/O 접점 원리에 따라 작동합니다. 정상 작동 시에 작동 플러그가 필요합니다. 테스트 분리 소켓의 점퍼는 자동 변환기 단락-회로 기능을 보장합니다.

이점

  • 유도 및 자동 변압기 단락-회로와 터치손상방지 설계를 사용한 최고의 안전성
  • 표준화된 CLIPLINE complete 시스템 액세서리가 있는 테스트 분리 소켓의 구성 가능한 단락-회로 점퍼
  • 작동 플러그의 래칭 및 양손 작동을 통한 안전한 애플리케이션
  • 테스트 분리 소켓에 작동 플러그 및 변압기 단락-회로가 있는 테스트 분리 시스템에 대한 모든 동유럽 요구 사항 충족
  • Reakdyn 원리를 사용해 유지 관리가 필요 없는 스크류 연결
  • 기존 테스트 시스템의 패널 컷아웃과 호환

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