보호 기술 및 제어 엔지니어링용 플러그-인 테스트 시스템

플러그-인 테스트 시스템 – 모든 작업에 적합한 솔루션

정기적으로 테스트해야 하는 인터페이스와 스위칭 장치들이 점점 더 많아지고 있습니다. FAME 플러그-인 테스트 시스템을 사용하면 더 많은 비용이나 시간을 투자하지 않고도 추가의 테스트를 수행할 수 있습니다.

이 플러그-인 테스트 시스템은 복잡한 스위칭 작업 시퀀스를 기능적 방식으로 그룹화합니다. 자동 유도 변압기 단락 및 통합 터치 보호 기능을 갖춘 이 시스템은 신뢰성 있는 안전을 보장합니다. FAME 플러그-인 테스트 시스템은 모듈형 구성을 지원하기 때문에 시스템을 애플리케이션에 맞게 최적으로 조정할 수 있습니다. 또한 이 시스템은 표준화된 CLIPLINE complete 브리지 액세서리를 사용합니다. 시스템에 따라 플러그-인 테스트 소켓 또는 테스트 플러그로 자동 변압기의 단락 기능을 보장할 수 있습니다.
플러그-인 테스트 소켓은 오프셋 테스트 소켓 배열을 통해 공간을 절약하도록 설계되었습니다. 또한 모든 플러그-인 테스트 시스템에는 넓은 면적의 마킹 옵션이 있습니다.

하나의 블록에서 FAME 2 및 FAME 3 RACK 플러그-인 테스트 시스템의 강제 스위칭 시퀀스

플러그-인 테스트 시스템은 서로 다른 두 가지 접근 방식을 사용하여 올바른 강제 스위칭 시퀀스에서 다양한 스위칭 작업을 수행할 수 있습니다.

FAME 2 시스템 테스트 플러그는 3가지 다른 접점 길이를 가지고 있어 안전한 순차적 분리 기능이 있는 스위칭 시퀀스를 삽입 작업을 통해 수행할 수 있습니다.

이와 달리 FAME 3 RACK 플러그-인 테스트 시스템은 플러그-인 테스트 소켓에서 강제 스위칭 시퀀스가 발생할 수 있으므로 단일 플러그만으로 테스트를 수행할 수 있어 시간이 절약됩니다. 플러그-인 테스트 소켓에서 강제 스위칭 시퀀스를 구현하기 위해 소켓은 단일 플레이트로 구성됩니다. 따라서 소켓을 조립할 때 다양한 스위칭 지점과 여러 유형의 플레이트를 선택할 수 있습니다. 예를 들어, S-플레이트는 스위칭 지점이 늦고 연결 접점과의 거리가 짧습니다. 즉, 이 플레이트는 삽입 시에 긴 지연 시간을 가지고 마지막으로 스위칭됩니다. S-플레이트와 함께 시스템에는 M-플레이트 및 L-플레이트가 있습니다. M-플레이트에는 지연된 스위칭 지점이 있고 L-플레이트에는 빠른 스위칭 지점이 있습니다.

FAME 1, FAME 3 및 FAME 3 SL 플러그-인 테스트 시스템은 서로 다른 블록으로 스위칭 프로세스 시퀀스를 결합하므로 강제 스위칭 시퀀스가 필요하지 않습니다.

자동 유도 변압기 단락-회로

FAME 플러그-인 테스트 시스템은 릴레이 테스트 또는 보호 장치 교체 시에 빠르고 쉽게 단락될 수 있습니다. 이렇게 하려면 시스템에 따라 플러그-인 테스트 소켓 또는 테스트 플러그에서 표준 플러그-인 브리지로 변류기를 단락시키십시오. 신호 분리가 손쉽게 유도됩니다.

FAME 2, FAME 3 및 FAME 3 RACK 플러그-인 테스트 시스템을 위한 회전 핸들 메커니즘

플러그-인 테스트 시스템의 특허 받은 회전 핸들 메커니즘은 테스트 블록에서 테스트 플러그를 가지런히 빼내는 데 도움을 줍니다. 이 핸들과 연결된 다양한 스위치의 위치에서 강제 잠금 및 일시 중지 기능을 통한 플러그-인 테스트 시스템은 시스템과 작업자 모두를 위한 높은 수준의 안전성을 확보할 수 있습니다.

테스트 플러그를 완전히 삽입하는 즉시 플러그가 플러그-인 테스트 소켓에 단단히 래치됩니다. 모든 테스트 접점이 테스트 설정에 따라 접촉됩니다. 핸들을 끝까지 45° 회전하여 테스트 플러그의 래칭을 풀 수 있습니다. 이를 통해 플러그를 중간 단계까지 당길 수 있습니다. 플러그-인 테스트 시스템 변류기 접점이 보호 장치와 다시 연결됩니다. 회전 핸들이 시작 위치로 되돌아간 후에만 플러그의 래칭이 풀립니다. 그런 다음 플러그-인 테스트 시스템에서 테스트 플러그를 완전히 빼낼 수 있습니다. 원래의 신호 연결이 복원됩니다.

FAME 3 SL 플러그-인 테스트 시스템의 잠금 메커니즘

FAME 3 SL 플러그-인 테스트 시스템의 테스트 플러그는 삽입하면 플러그-인 테스트 소켓에 자동으로 잠금됩니다. 테스트 접접은 테스트 설정에 따라 견고하게 접촉됩니다. 테스트가 끝나면 오렌지색 레버를 작동하여 래칭을 해제할 수 있습니다. 테스트 플러그를 뽑으면 플러그-인 테스트 시스템의 원래 신호 연결이 복원됩니다.

플러그-인 테스트 시스템의 마운팅 타입

각기 다른 플러그-인 테스트 시스템을 각기 다른 방식으로 설치할 수 있습니다.

FAME 3 RACK 플러그-인 테스트 시스템은 스크류를 사용하여 19 인치 마운팅 프레임에 고정됩니다. FAME 3 랙 시스템의 모듈성으로 인해 2개의 랙 장치 및 최대 7개의 핀, 3개의 랙 장치 및 최대 12개의 핀, 4개의 랙 장치 및 최대 18개의 핀이 있는 플러그-인 테스트 소켓을 복제할 수 있습니다. 또한 FAME RACK 플러그-인 테스트 시스템을 19 인치 포맷이 아닌 전면부 패널 또는 컨트롤 캐비닛 도어의 컷아웃에 직접 마운트할 수도 있습니다.

이와 달리 FAME 3 SL 플러그-인 테스트 시스템은 패널 컷아웃 전용으로 설계되었습니다. 이 시스템은 플러그-인 테스트 시스템을 적절한 컷아웃에 빠르고 쉽게 래치할 수 있도록 2개의 푸쉬 버튼을 사용합니다.

FAME 1, FAME 2 및 FAME 3 시스템도 마찬가지로 전면부 플레이트 또는 컨트롤 캐비닛 도어의 컷아웃에 설치됩니다. 이 경우 플러그-인 테스트 소켓은 특허 받은 스크류 메커니즘을 통해 컷아웃에 고정됩니다.

플러그-인 테스트 소켓에 대한 안전한 케이블 연결 경로 지정

제어 및 작동 목적을 위해 플러그-인 테스트 시스템은 일반적으로 외부에서 액세스할 수 있어야 합니다. 보호 및 제어 엔지니어링 애플리케이션에서 일부 장치 및 플러그-인 테스트 소켓이 컨트롤 캐비닛 도어에 마운트되는 이유가 바로 이 때문입니다.
케이블 가이드 시스템의 회전 암은 컨트롤 캐비닛 도어 또는 회전 마운팅 프레임용 전선, 케이블 및 케이블 하네스를 매우 쉽고 안전하게 설치할 수 있게 합니다. 특허 받은 회전 조인트를 열고 사전 조립된 케이블을 공구 없이 넣거나 당겨서 통과시킬 수 있으므로 이 솔루션으로 인해 시간이 절약됩니다.