FAME 1은 변류기, 전압 변환기, 트리핑 및 신호 접점의 기능 테스트를 위한 복잡한 스위칭 작업을 컴팩트한 공간 절약형 개별 블록에 결합합니다. 이 시스템은 N/O 접점 원리에 따라 작동합니다. 정상 작동 시에 작동 플러그가 필요합니다. 테스트 분리 소켓의 점퍼는 자동 변환기 단락-회로 기능을 보장합니다.
이점
유도 및 자동 변압기 단락-회로와 터치손상방지 설계를 사용한 최고의 안전성
표준화된 CLIPLINE complete 시스템 액세서리가 있는 테스트 분리 소켓의 구성 가능한 단락-회로 점퍼
작동 플러그의 래칭 및 양손 작동을 통한 안전한 애플리케이션
테스트 분리 소켓에 작동 플러그 및 변압기 단락-회로가 있는 테스트 분리 시스템에 대한 모든 동유럽 요구 사항 충족
Reakdyn 원리를 사용해 유지 관리가 필요 없는 스크류 연결
기존 테스트 시스템의 패널 컷아웃과 호환
FAME 1 – 시스템 특성
FAME 1은 FAME 시스템의 속성 외에도 이점을 제공합니다.
제공된 이점:
테스트 분리 소켓의 구성 가능한 단락-회로 점퍼
자동 유도 변압기 단락-회로는 테스트 분리 소켓에서 표준 점퍼를 사용하여 구현됩니다. 단락-회로 점퍼는 터치손상방지 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 컨트롤 캐비닛 외부에 배치된 상태를 명확하게 확인할 수 있습니다.