Os conteúdos que está a visualizar estão concebidos à medida para Portugal. Visualizar conteúdos para Estados Unidos | Selecionar outro país

Verificações de materiais para conectores e invólucros eletrónicos Elevada qualidade graças a testes de materiais para um comportamento ideal a longo prazo no lote de teste A: para avaliar a sua adequação e comportamentos a longo prazo, na Phoenix Contact para além da simulação auxiliada por computador, os materiais usados também ​​são submetidos a testes abrangentes. Desta forma é garantido que são utilizados apenas materiais que atendem aos mais elevados requisitos em termos de fiabilidade e durabilidade.

Teste de fio incandescente num borne para placa de circuitos impressos
Teste de fio incandescente de um invólucro eletrónico num laboratório da Phoenix Contact

Teste de fio incandescente de um invólucro eletrónico num laboratório da Phoenix Contact

Teste de fio incandescente

O teste de fio incandescente simula as cargas térmicas como aquelas causadas, por ex., por peças incandescentes ou resistências elétricas brevemente sobrecarregadas. Durante a verificação, a ponta do fio incandescente é colocada em contacto com a amostra, durante 30 s com uma força de pressão de 1 N. Em casos, nos quais o material do fio incandescente derreta, a profundidade de penetração do fio incandescente no material é limitada a 7 mm. As chamas ou brasas na amostra devem extinguir-se o mais tardar 30 s após remover o fio incandescente.

Registo termográfico de um borne para placa de circuitos impressos

Registo termográfico de um borne para placa de circuitos impressos

Registos termográficos

O comportamento elétrico e térmico de um material ou produto é visualizado e avaliado quantitativamente através de registos termográficos. Com imagens completas detalhadas no componente na aplicação é possível efetuar um ajuste preciso da gestão térmica. Assim, as otimizações podem ser facilmente associadas às fontes de calor e respetivos pontos de acesso

Registo de uma microscopia eletrónica de varrimento

Registo de uma microscopia eletrónica de varrimento

Microscopia eletrónica de varrimento

A microscopia eletrónica de varrimento permite análises de alta resolução do material e da topografia até à determinação dos elementos e composição química de uma amostra de análise. Estes resultados auxiliam o processo de desenvolvimento, incluindo na área dos componentes miniaturizados, e garantem as propriedades dos materiais no âmbito do controlo de qualidade preventivo.

Tomografia computorizada durante um teste de laboratório

Tomografia computorizada durante um teste de laboratório

Tomografia computadorizada de raios X

A tomografia computorizada permite uma análise rápida e precisa, incluindo no que diz respeito a módulos cada vez mais complexos. Uma análise funcional tridimensional não destrutiva dos componentes, por ex., em invólucro fechado, pode assim permitir a resolução rápida de dúvidas tecnológicas específicas. Desta forma, pode ser realizado um corte não destrutivo em todos os elementos do componente ou dispositivo, com o qual é possível visualizar as condições de instalação de todas as peças individuais em qualquer ponto pretendido.